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“黑”“白”配——电磁兼容领域测试评价与风险评估评价共舞模式即将来临

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2018-2-8 20:54 3681 0 原作者: 上电科来自: 上电科

简介

在现有的电磁兼容标准评价体系中，传统模式可认为是“黑盒评价”，产品研发人员或检测人员只能通过测试得到“后果”，无法识别“起因”，从而也就无法真正了解电磁兼容的问题所在。

上海电器科学研究院（以下简称上海电科院）于2018年2月2日在上海召开了《电磁兼容可靠性风险评估导则》标准第二次工作组会议。本标准得到各检测机构、研究院所及主流厂商的高度关注，如工信部电子第五研究所、信息产业部电子四所、中国汽车工程研究院股份有限公司、北京交通大学、上海汽车集团股份有限公司、施耐德电气(中国)有限公司上海分公司等单位共余15位代表出席了本次会议。

该标准主要有上海电科院牵头起草，本次会议主要在emc风险评估理想模型上取得了突破性进展，后续将开展风险识别、风险评估实施、风险管理的研究。研究后的标准将突破现有电磁兼容评价模式，开辟了电磁兼容可靠性风险评估的新领域。相对应的该评价方式为“白盒评价”，此模式将前置产品电磁兼容风险点，使得产品研发设计人员、检测人员和产品使用人员充分识别产品风险，提供电磁兼容风险评估指导。

本标准主要包括产品电磁兼容的风险评估原则、依据、流程、机理、模型、分类、实施、等级评价和报告要求等内容，本标准的实施将从理想模型的确立（通用产品的零风险模型），风险评估准备（给出产品具体的风险评估点信息），风险评估的实施（通过评估点理想模型与产品实际情况的对比，确立产品的风险点），给出产品的风险等级并进行分析，最终给出具体的风险评估报告。

本次会议圆满结束后，预计在2018年3月本标准将形成标准工作组讨论稿，欢迎电磁兼容相关行业单位积极参与。

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