mac_du 发表于 2013-5-21 12:59:52

mac_du 发表于 2013-5-16 12:06
回复 8# walterP

   


test!

mic29 发表于 2013-11-25 17:34:32

我水準太低，mac 的第一次回覆我幾乎都看不懂，第二次回覆還看得懂一些，所以只好提另一個可能性與大家討論

當ESD放電時伴隨的電磁波由空間耦合進入復位線而引起復位時，小尺寸的MLCC濾波效果反而不如大尺寸同容質的，看來是有些奇怪
但是如果不是電磁波耦合，而是ESD直接由GND經MLCC進入復位線引起復位時，這樣就可以合理地解釋LZ的問題

舉例，假設某0603的諧振點是3MHZ，而0402是在5MHZ
當IC的敏感頻率是5MHZ左右時，若以0402去耦，則會有較多的ESD能量由GND進入復位線，導致發生復位
若是以0603去耦，則因阻抗較高，進入復位線的ESD能量較少，測試就PASS

理論上只要移除此電容後再測一次，即知ESD路徑是由復位線到地，還是相反
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查看完整版本: 电阻、 电容不同封装在静电整改中的问题。